X射線熒光光譜儀能分析元素成分含量，優(yōu)點多

點擊次數(shù)：2075 更新時間：2020-05-09

　　X射線熒光光譜儀是根據(jù)X射線熒光光譜的分析方法配置的多通道光譜儀，儀器能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量。它主要由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構成。其原理是X射線管通過產生入射X射線(一次X射線)，來激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線(又叫X熒光)，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量或者波長。

　　X射線熒光光譜儀具有以下優(yōu)點：

　　1、分析速度高。測定用的時間與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

　　2、非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結果重現(xiàn)性好。

　　3、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

　　4、分析精密度高。

　　5、制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

　　6、X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。

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X射線熒光光譜儀能分析元素成分含量，優(yōu)點多