X射線熒光光譜儀采用的技術(shù)實(shí)際上是一個(gè)表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。

 

　　X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測(cè)量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析B(5)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測(cè)量樣品的最大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。

 

　　X射線熒光光譜儀分為波長(zhǎng)色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。

 

　　X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)Bragg定律將不同能量的譜線分開，然后進(jìn)行測(cè)量。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時(shí)式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個(gè)測(cè)量元素，因此測(cè)量速度通常比同時(shí)式慢，適用于科研及多用途的工作。同時(shí)式則適用于相對(duì)固定組成，對(duì)測(cè)量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀結(jié)合了兩者的優(yōu)點(diǎn)。

 

　　X射線熒光光譜儀不僅適配尋找礦場(chǎng)和對(duì)礦場(chǎng)進(jìn)行檢測(cè)，還能夠用于環(huán)境的監(jiān)測(cè)和修復(fù)。作為典型的環(huán)境監(jiān)測(cè)和修復(fù)過程中的一個(gè)環(huán)節(jié)，該儀器可以對(duì)仍在使用或已經(jīng)關(guān)閉的工業(yè)地產(chǎn)附近的土壤、沉積物、灰塵、尾礦中的元素進(jìn)行快速識(shí)別，檢測(cè)是否有危害環(huán)境和人類身體健康的危險(xiǎn)元素。X射線熒光光譜儀作為一種快速可靠的分揀工具，可以提供易于歸檔的環(huán)境監(jiān)測(cè)的量化記錄。